2025年10月17日上午，美国普渡大学生物医学工程系李宜伦博士受光仪学院马冬晗教授邀请，在厚望楼309-1举办题为“图像分辨率的统计学度量方法”的学术报告会。化工学院叶智伟副教授及本科生、研究生参与报告会。

分辨率定义了显微成像系统最核心的性能，过去一直被认为仅由光波长和数值孔径决定，与噪声无关。虽然这一经典定义在反射显微镜和透射显微镜中仍然适用，但在荧光显微镜中，由于光子数有限、噪声不可忽视，传统定义已不足以准确描述系统的真实分辨能力。

报告中，李宜伦博士介绍了他所提出的一种统计学分辨率度量方法，同时考虑光学衍射与光子噪声，为评估荧光及超分辨显微镜的分辨能力提供了一个实用且可量化的理论框架。通过建立基于信息密度的指标，能够定量描述噪声对分辨率的影响，并分析数值孔径、共聚焦针孔大小、探测器采样等系统参数对成像性能的影响。他以严谨的理论分析和详实的仿真展示，为听众带来了一场精彩纷呈、干货满满的学术盛宴。在随后的提问与交流环节，同学们踊跃发言，积极提问，也在李宜伦博士的回答中受益匪浅。

李宜伦博士，2018年获中国科学技术大学物理学学士学位，2024年获美国普渡大学生物医学工程专业博士学位，曾在Nature Communications、Biomedical Optics Express等期刊上发表研究论文。博士毕业后，与导师黄方教授共同创立NanoRes公司，专注于新一代超分辨率显微镜的研发与产业化，现任公司首席执行官。